کد خبر: ۳۰۸۳۲۰
تاریخ انتشار: ۱۱:۲۰ - ۰۳ خرداد ۱۳۹۴
 به نقل از سایت Phus  org دانشمندان یک فناوری جدیدی را توسعه داده‌اند که قابلیت‌های قدرتمند تجزیه و تحلیل اشعه‌ی X و STM را به هم متصل می کند. 
 
منابع نور سنکروترون برای شناسایی مواد در فیزیک ماده چگال، علم مواد، شیمی، زیست شناسی و علوم انرژی استفاده می‌شود . با این حال با بهترین میکروسکوپ سنکروترون اشعه ایکس موجود تا به امروز تصویر برداری شیمیایی مستقیم زیر حد فضایی 10 نانو متر به دست نمی‌آید. 
 
در حال حاضر دانشمندان می‌توانند از سطوح به طور شیمیایی انگشت نگاری کنند و بر محدودیت مکانی غلبه کنند. 
 
درک جامع از سیستم‌هایی با مقیاس نانو نیاز به ابزارهایی با دوقابلیت برای حل و فصل ساختارهای نانو متری به خوبی مشاهده مستقیم ترکیب شیمیایی و خواص مغناطیسی است. 
 
روش میکروسکوپی اشعه X، حساسیت مغناطیسی و شیمیایی ریز ساختارها محدود است از سوی دیگر اسکن میکروسکوپی تونل زنی (STM) ما را به قدرت تفکیک مکانی بالای مورد نیاز می‌رساند اما یک نقطه ضعف اساسی دارد این روش از لحاظ شیمیایی کوراست. در نتیجه دانشمندان در پی جفت‌سازی این دو روش هستند. 
 
توسعه سازی فناوری جدید مبنی بر مربوط ساختن دو روش اشعهX و STM از طریق توسعه پروبهای چند لایه کواکسیال نانو ساختار هوشمند امکان پذیر است این پروبها به عنوان آشکار ساز در میکروسکوپ به کار می‌روند.
نظر شما
نام:
ایمیل:
* نظر:
پربازدید ها
طراحی و تولید: "ایران سامانه"